Universiteit Leiden

nl en

Roeland van der Rijst

Hoogleraar Onderwijswetenschappen

Naam
Prof.dr. R.M. van der Rijst
Telefoon
+31 71 527 6496
E-mail
rrijst@iclon.leidenuniv.nl
ORCID iD
0000-0002-6749-8283

Roeland van der Rijst is als hoogleraar onderwijswetenschappen verbonden aan het ICLON van de Universiteit Leiden. Hij heeft diverse rollen waaronder onderwijsonderzoeker, adviseur, trainer en leidinggevende. Na als natuurkundedocent gewerkt te hebben in het voortgezet tweetalig onderwijs in Zuid-Afrika en Nederland, begon hij zijn carrière in het hoger onderwijs. In 2009 ontving hij zijn PhD voor zijn werk over de verwevenheid van onderzoek en onderwijs. Verder is hij bestuurslid van de Vereniging voor Onderwijs Research (VOR), fellow van de nationale onderzoeksschool ICO en lid van de redactie van de tijdschriften International Journal of Academic Development, Teaching in Higher Education en het nationaal onderwijswetenschappelijke tijdschriften Pedagogische Studiën.

Onderzoek

Roelands onderzoeksactiviteiten richten zich op leren en doceren in het hoger onderwijs. De nadruk ligt daarbij op de didactiek, pedagogiek en instructievormen, het stimuleren van het leren van studenten en het leren van docenten. Veel van zijn projecten zijn gerelateerd aan ‘onderzoeksgebaseerd onderwijs’. Hij begeleidt diverse promovendi uit verschillende nationale en internationale hoger onderwijscontexten.

Onderwijs

Roeland is fellow van de Leiden Teachers’ Academy, lerarenopleider en is BKO en SKO gecertificeerd docent universitair onderwijs. En verder verzorgt hij diverse keynotes op internationale conferenties en draagt bij aan de continue professionele ontwikkeling van docenten aan diverse hoger onderwijsinstellingen internationaal.

Hoogleraar Onderwijswetenschappen

  • ICLON
  • Hoger Onderwijs
  • Onderwijsbeleidsonderzoek

Werkadres

Willem Einthoven
Kolffpad 1
2333 BN Leiden
Kamernummer B2.29

Contact

Publicaties

  • International Journal for Academic Development Associate editor
Deze website maakt gebruik van cookies.  Meer informatie.